Micrómetro de escaneo láser LSM-30-A - 544-124

Name: Micrómetro de escaneo láser LSM-30-A - 544-124
SKU: 544-124

Ref: 544-124

Soluciones para mediciones de alta precisión de diámetros externos en la era de la inspección en línea para medir:

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Série: 544
Modelo: LSM-30-A
Resolução / Graduação : 0.01 µm
Repetibilidade: Faixa Completa: ø 30 mm: ± 0.09 µm / Faixa intermediária: ø 10 mm: ± 0.06 µm
Linearidade: Faixa total: ± 1.0 µm / Faixa estreita: ± (0.6+0.1 ⊿ D) µm
Erro de posicionamento: Faixa completa (10 × 30): ± 1.8 µm / Faixa intermediária (5 × 20): ± 1.0 µm
Região de medição: 10 × 30 mm
Número de varreduras para média: 1 até 2048 varreduras
Classe do laser: Laser semicondutor: CLASSE 1 (Saída máxima: 1.0 mW, Comprimento de onda do laser: 650 nm)
Taxa de varredura: 3200 varreduras/s
Velocidade de varredura a laser: 226 m/s
Faixa de medição: 0.3 a 30 mm
Ambiente de operação: Temperatura: 0 °C até 40 °C, Umidade: 35% até 85% (não condensante) Altitude: 2000 m ou menos
Temperatura de armazenamento: Temperatura: -10 °C até 50 °C, Umidade: 35% até 85% (não condensante)
Distância entre a unidade de emissão e a unidade de recepção: Padrão: 130 mm, Máximo: 350 mm

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